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欠陥

欠陥の記事一覧

全18件中 1〜10件目を表示

  • JR東海と古河電工、鉄道台車向けレーザーブラスト技術「インフラレーザー」を実用化

    東海旅客鉄道（JR東海）と古河電気工業（古河電工）は、鉄道台車の探傷試験に先立つ塗膜除去工程において、古河電工が開発したインフラ構造物向けレーザーブラスト技術「インフラレーザー」を採用し、2025年6月から運用を開始した...

    2025.11.14

  • 東芝ら，ナノ欠陥をワンショットで3D形状に可視化

    東芝と東芝情報システムは，生産現場における外観検査において，製品の表面の極微小なナノスケールの高低差を持つ欠陥（キズなど）を1枚の撮像画像から3D形状に瞬時に可視化する新たなワンショット光学検査技術を開発した（ニュースリ...

    2025.02.26

  • 東大ら，狙った場所に発光欠陥を生成し量子センサに

    東京大学，物質・材料研究機構（NIMS），産業技術総合研究所は，量子センサをナノスケールのサイズで自在に並べる技術の開発に成功した（ニュースリリース）。 磁場測定は，基礎研究としても応用研究においても重要だが，特に，空間...

    2023.06.14

  • 宮崎大ら，CdTe中の詳細な欠陥構造を解明

    宮崎大学，名古屋工業大学，中国Beijing Computational Science Research Centerは，化合物半導体の一つであるCdTe（テルル化カドミウム）中の詳細な欠陥構造を解明した（ニュースリリ...

    2023.04.21

  • 日立ハイテク，ウエハー表面検査装置を発売

    日立ハイテクは，パターンなしウエハー表面における異物や欠陥を検査する「LS9600」を発売することを発表した（ニュースリリース）。 この製品は，新規採用の高出力・短波長レーザーなどを搭載することにより，最先端半導体デバイ...

    2022.12.20

  • JFCCら，パワー半導体の結晶欠陥イメージングに成功

    ファインセラミックスセンター（JFCC），ノベルクリスタルテクノロジー，兵庫県立大学は，X線回折現象の一つである「異常透過現象」を利用し，世界で初めてβ-Ga2O3結晶内部の様々な格子欠陥を短い測定時間且つ非破壊で全数可...

    2022.12.09

  • 京大，SiCトランジスタ性能を6~80倍超向上

    京都大学の研究グループは，SiC半導体で問題になっていた欠陥を大幅に低減し，実用的な構造でSiCトランジスタの性能を6倍以上向上した（ニュースリリース）。 半導体パワーデバイスに主に使われているSiは理論限界に達しつつあ...

    2021.10.27

  • 名大，ドメインウォール・スキルミオンを観測

    名古屋大学の研究グループは，磁性体において，様々な物理学分野で存在が予測されてきた「ドメインウォール・スキルミオン」と呼ばれる状態の観測に成功した（ニュースリリース）。 秩序化した領域同士の境界に現れる「ドメインウォール...

    2021.06.11

  • 東北大，単結晶の欠陥制御で最低熱伝導率達成

    東北大学の研究グループは，アルゴン圧力下でマグネシウム錫化合物の単結晶を作製すると，マグネシウム空孔欠陥を導入することができ，多結晶よりも熱伝導率が低くなることを明らかにした。さらに，空孔欠陥が存在するマグネシウム錫化合...

    2021.05.12

  • 関学ら，6インチSiC基板の欠陥ゼロ技術を実現

    関西学院大学と豊田通商は，次世代パワー半導体材料SiC（炭化ケイ素：シリコンカーバイド）基板内の欠陥を無害化する表面ナノ制御プロセス技術 「Dynamic AGE-ing」を開発し，6インチSiC基板での性能検証を完了し...

    2021.03.02

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