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欠陥

欠陥の記事一覧

全18件中 11〜18件目を表示

  • 名工大ら，X線で熱電変換性能に関係する歪を観測

    名古屋工業大学と名古屋大学らは，放射光による精密な構造解析とスーパーコンピューターによる大規模な結晶構造のシミュレーションの組合せにより，熱電変換材料中に存在するわずかな欠陥原子周辺の歪の観測に成功した（ニュースリリース...

    2020.11.16

  • 東北大ら，極低温でGaNの発光効率計測に成功

    東北大学と浜松ホトニクスは，全方位フォトルミネセンス（ODPL）法を用いて，極低温下における窒化ガリウム結晶の絶対発光効率計測に成功した（ニュースリリース）。 窒化ガリウム（GaN）に基づく高耐圧トランジスタや高出力LE...

    2020.09.28

  • 横国大ら，欠陥をレーザーピーニングで無害化

    横浜国立大学と新東工業の研究グループは，レーザーピーニングと呼ばれる表面改質法により，金属材料の表面欠陥を強度上無害化する手法を開発した（ニュースリリース）。 これまで，金属材料の疲労強度向上のためにショットピーニングが...

    2020.03.30

  • OISTら，ペロブスカイトの欠陥に新たな知見

    沖縄科学技術大学院大学（OIST）と米ピッツバーグ大学の研究グループは，素材に生じる欠陥構造がイオンの変移を引き起こすことでペロブスカイトを不安定にするという特性を明らかした（ニュースリリース）。 ペロブスカイト化合物は...

    2019.11.25

  • 日本製鉄ら，超急速加熱過程で転位の動きを観測

    日本製鉄，理化学研究所，大阪大学，高輝度光科学研究センターの研究グループは，X線自由電子レーザー施設SACLAにおいて，鉄鋼材料のマルテンサイト組織の超急速加熱過程における転位（結晶欠陥）の瞬間的な動きの定量的な観測に，...

    2019.11.08

  • 阪大ら，結晶の構造欠陥の除去方法を発見

    大阪大学とロシア高圧研究所，ロシア原子核研究所，独ドレスデン工科大学の研究グループは，高濃度の欠陥を持つ結晶に対して欠陥の有効な除去方法を発見した（ニュースリリース）。 半導体は結晶構造における欠陥を巧妙に制御することで...

    2019.08.28

  • 産総研ら，モアレ縞による結晶欠陥検出技術を開発

    産業技術総合研究所（産総研）と東芝デバイス＆ストレージは共同で，結晶の透過電子顕微鏡画像から欠陥を検出できる画像処理技術を開発した（ニュースリリース）。 近年，半導体の性能・寿命を保証するため，半導体デバイスの製造時に発...

    2017.09.21

  • 東工大ら，FETの欠陥でコヒーレンス制御に成功

    東京工業大学の研究グループは，英ケンブリッジ大学と共同で，半導体デバイスである電界効果トランジスタ（FET）の酸化膜中の欠陥について，通常ノイズとして扱うところを注意深く制御し，それがコヒーレンス時間の長い2準位状態にな...

    2016.10.21

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