日本レーザー，米BI社製波長計・スペアナの取扱いを開始

日本レーザーは，米Bristol Instruments（BI）社の波長計及びスペクトラムアナライザの販売を開始した（ニュースリリース）。

BIは，光干渉計をベースとする高精度測定器の設計・製造を行なうメーカー。2005年設立，米ニューヨーク州ロチェスター近郊に位置する。スタッフはレーザーと高精度計測機器の設計，製造，マーケティングまで深い造詣と高い経験を有し，製品は高分解能なレーザー・スペクトル評価のため世界中の産業・研究両分野で導入されている。

今回，日本レーザーが扱いを開始したのは以下の3機種
「671シリーズ　高精度CW波長計」
 波長域： VIS 375～1100 nm / NIR 520～1700 nm / IR 1～5μm / MIR 1.5～12 μｍ
 671A高精度モデル：測定確度 ±0.2ppm、測定分解能 ±0.06ppm
 671B低価格モデル：測定確度 ±0.75ppm、測定分解能 ±0.2ppm
 マイケルソン干渉計ベース
 内蔵HeNeレーザーによる連続校正

「871シリーズ　高測定レート・高精度CW＆パルス波長計」
 波長域： VIS 375～1100 nm / NIR 630～1700 nm
 871A高精度モデル：測定確度 ±0.2ppm、測定分解能 ±0.01ppm
 871B低価格モデル：測定確度 ±0.75ppm、測定分解能 ±0.2ppm
 測定レート： 50Hz ～ 1kHz
 フィゾーエタロンベース
 自動校正機能付き

「771シリーズ　レーザースペクトラムアナライザ」
 波長域： VIS 375～1100 nm / NIR 520～1700 nm / IR 1～5μm / MIR 1.5～12 μｍ
 871A高精度モデル：測定確度 ±0.2ppm
 871B低価格モデル：測定確度 ±0.75ppm
 マイケルソン干渉計＆高速フーリエ変換解析ベース
 CW＆パルス両用