電気通信大学とネオアークの研究グループは，デュアルコム分光法を利用することにより，磁気光学効果測定装置の性能を従来に比べて大幅に向上させることに成功した（ニュースリリース）。
デュアルコム分光法とは，精密に制御された超短パルスレーザーである光周波数コム（光コム）を2つ使う新しい分光法で，従来のフーリエ分光法に比べ，分解能，感度，測定時間などの点で非常に優れている。主に気体の分光分析に利用されているが，研究グループは今回，デュアルコム分光法による固体物性評価技術の開発に世界で初めて成功し，さまざまな物性測定の原理実証を行なってきた。
その成果を実用化するための第一歩として，磁性材料の特性評価に必要な磁気光学効果測定装置の開発を進めてきた。そのプロトタイプ（原型機）の光学系や信号検出系などの完成度を高め，従来の測定方法を大幅に上回る測定性能を実現した。
主な性能としては，磁気光学効果測定分解能0.01度，波長分解能0.01nm，各波長成分の一括測定による高速測定を達成し，実用化に向けて大きく前進した。測定システムは卓上型で，測定装置本体，デュアルコム光源，コントローラーから構成されており，発生磁場は最大で±10キロエルステッドとなっている。
さらに，上述の固体物性評価技術をもとに，固体の複素屈折率を測定する装置の試作機を開発した。固体材料を通過した光の強度比だけでなく，位相差も測定できることが大きな特長だという。
磁気光学効果測定装置のプロトタイプと，複素屈折率測定装置の試作機は，精密な偏光・分光測定や材料開発などの新ツールとして活用されることが期待され，近い将来の製品化を目指して開発を進めていくとしている。
これらの装置は，2019年11月12日から14日まで科学技術館（東京都千代田区）で開催される「光とレーザーの科学技術フェア2019」にて展示される予定。
