米MKS Instrumentsは，大きな拡散ビームを測定する設計により，45μmから23mmx23mmまでのビームサイズで，340～1100nmの波長を正確に捉えて解析することが可能なラージビームプロファイラー「Ophir SP504S」を発表した（製品ページ）。
この製品は，44.6dBの広いダイナミックレンジ，0.25nW/cm2の最小シグナル，NIR領域での高精度を特長としている。業界最小の4.5μmピクセルサイズを提供し，より高い空間分解能と，より小さなビームサイズでのレーザービームの測定が可能だとする。高解像度を必要とする大口径ビームのアプリケーションや，レーザー材料加工，VCSEL/LED，医療美容など，広い領域でビームプロファイル測定が必要な場合に適しているという。
また，大型の32.5mmグローバルシャッターCMOSイメージャーと高分解能を組み合わせており，2インチの光学部品とアクセサリ向け業界標準の2.035インチ-40スレッドを含むスレッドアダプタを備えたコンパクトなデザインで，ねじ込み式ND1，ND2，およびND3フィルターも提供される。カメラのGigEインターフェイスにより，産業用アプリケーションのリモート接続が可能になるとしている。
さらに，業界で最も高度なレーザービーム解析ソフトウェアである「Ophir BeamGageプロフェッショナル」と連携。このソフトウェアは，ビーム測定精度のISO11146-3規格制定に貢献したOphirの特許取得済みのベースライン補正アルゴリズムであるUltracal補正機能に基づいており，パワーとスポット口径，パワー密度，スポットの位置など，ISO承認の正確なレーザービーム測定を行なうために必要なすべての計算が含まれているという。
この製品は，オフィールジャパンが日本国内にて販売する。
![](https://optronics-media.com/kijbyuj/wp-content/uploads/2026/01/b0ea6e1bfd17d5d40db19d8e366ccb2e.png")
