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干渉計

干渉計の記事一覧

全16件中 11〜16件目を表示

  • 産総研，大口径で高精度な平面形状測定装置開発

    産業技術総合研究所（産総研）の研究グループは，直径600mmまでの平面基板をnmレベルの絶対精度で凹凸を測定できる形状測定装置の開発に世界で初めて成功した（ニュースリリース）。 今回用いた技術は，物体表面の局所的な角度分...

    2020.02.06

  • 都市大，レーザーで1/100Hzの超低周波を測定

    東京都市大学は，レーザードップラー振動計を用いて，世界初となる100分の1Hzの超低周波を測定できる非接触測定技術を開発し，この技術を搭載した測定器を併せて開発した（ニュースリリース）。 風力発電等の大型機械が稼働する地...

    2019.05.28

  • 東北大ら，高分子レーザー加工を3次元で動的に可視化

    東北大学の研究グループは，科学技術振興機構（JST）の戦略的創造研究推進事業ERATOの一環として，高分子レーザー加工の様子を3次元的かつ動的に可視化する技術を開発した（ニュースリリース）。 物体内部の構造を立体的に可視...

    2019.05.24

  • 慶大ら，超短パルス光で固体中の量子経路干渉を観測

    慶應義塾大学と東京工業大学は，超短パルス光照射をした半導体結晶中で，光遷移過程の量子経路干渉による電子コヒーレンスの崩壊と復活現象が起こること，不透明領域においてもコヒーレント光学フォノン生成に誘導ラマン過程が支配的であ...

    2019.05.22

  • 産総研，ウエハ厚を高精度に測定する干渉計を開発

    産業技術総合研究所（産総研）は，長さの国家標準にトレーサブルに試料厚さを測定できる厚さ測定用両面干渉計を開発し，シリコンウエハの厚さ測定に応用した（ニュースリリース）。 非接触の厚さ測定には，シリコンを透過する赤外光を用...

    2018.09.05

  • 産総研，プランク定数の決定に光学技術で貢献

    産業技術総合研究所（産総研）は，シリコン単結晶球体の超精密な形状計測を通じて，基礎物理定数の一つであるプランク定数を世界最高レベルの精度で測定し，キログラムの定義改定に向け大きく貢献した）（ニュースリリース）。 キログラ...

    2017.10.24

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