オフィールジャパンは，「Ophir SP932U USB 3.0 高分解能ビームプロファイラー」を発表した（ニュースリリース）。
この製品は，UV，VIS，NIR，およびNd：YAG波長用のコンパクトなCMOSカメラベースのビームプロファイラーであり，レーザー強度分布を正確に測定する。
ワイドダイナミックレンジ，高感度，直線性，高解像度を兼ね備え，ビームプロファイリングソフトウェア「BeamGage」が含まれる。このソフトは，NIRおよびNd：YAG波長用に設計され，新規のブルーミング補正，アルゴリズムを備えており，材料加工，医療，手術，美容など，幅広い分野に於ける1000-1100nmのアプリケーションを最適する。
新製品は，2048×1536の解像度，3.45μmのピクセルピッチ，およびフル解像度でのフレームレートは24Hz。コンパクトで正方形のデザインは，セットアップの多様性を高めるという。
CMOSセンサーはCCDセンサーよりも30%高速で，「スミアリング効果」を生み出さない。課題として，CMOSセンサーが「ブルーミング」を引き起こし，1000〜1100nmの範囲で測定精度を低下させる可能性がある。新製品は，ブルーミング補正アルゴリズムを採用した。
多くのアプリケーションに於いて高精度の測定が重要で，例えば1064nmで溶接する場合，パワー密度はシステムの歩留まりに直接影響する重要な値となる。そのためには，焦点でレーザービームのサイズを測定する必要があるが，新製品はスポットサイズを正確に測定するように設計されており，生産性を向上させる。
さらにこの新製品は，ビーム分析システム「Ophir BeamGage Standard」と「BeamGage Professional」ソフトウェアによってサポートされている。
