ナノテスティングシンポジウム（旧名称 LSIテスティングシンポジウム）は、ナノスケールの構造を持った材料・デバイスのテスティング技術に関し、設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テスト装置分野の研究者が一堂に会し議論する場を提供することを目的として、毎年開催されています。
- 参加費：
- 一般： 13,000円 学生： 5,000円
- URL：
- https://inanot.sakura.ne.jp/nanots/
お問合せ先：
〒565-0871 吹田市山田丘1-5 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 知的集積システム講座内
TEL：
06-6879-7813
FAX：
06-6879-7812
E-mail：
secretariat@inanot.sakura.ne.jp
