内　容：
分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックスについて講演が行われます。「チュートリアル」では、分析電顕の基軸となるEDS、EELS、STEMの基礎について詳しい講演がなされます。初日のトピックセッションでは、「マルチプローブによる構造解析の最前線」と題して、各種プローブを用いた解析の新展開を紹介します。二日目の午前には、「試料作製」のセッションで、最近進展の著しいFIB（集束イオンビーム装置）による自動化とソフトマテリアルの試料作製について紹介します。また、午後には「元素分析の新展開」について、最近の研究例を紹介します。分析電顕に関わる活発な討論の機会となりますよう奮ってご参加ください。また今年度から、一般講演の募集を再開することに致しました。発表時間は質疑応答を含めて15分の予定です。皆様の奮ってのご発表もお待ちしております。