第40回分析電子顕微鏡討論会

分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックスについて講演が行われます。
初日午前の「チュートリアル」では、分析電顕の基軸となるEDS、EELS、STEMの基礎について詳しい講演がなされます。午後のトピックセッションでは、「分析TEMの実践」に焦点をあてて、より実践的な分析TEM利用についてのノウハウやその応用例を装置メーカー講師の方よりご紹介いただきます。
二日目午前は「試料作製」に関するチュートリアル講演、午後のトピックセッションでは「(S)TEMによるひずみ解析の最先端」に関する講演がなされます。
分析電顕に関わる活発な討論の機会となりますよう奮ってご参加ください。

【プログラム（2025.8.9現在）】
12月4日（木）
チュートリアル（座長：佐藤庸平（東北大学））
〇9:30-10:10 EDSの基礎 川畑正伸（アメテック）
〇10:10-10:50　EELSの基礎と応用 吉川純（物質・材料研究機構）
〇10:50-11:30　STEM位相法の基礎 関岳人（東京大学）
〇11:40-12:00 Q&A

トピックス１：分析TEMの実践（座長：朝山匡一郎（日本電子））
〇13:30-14:10　実践STEM講座 奥西栄治（日本電子）
〇14:10-14:50　実践EDS講座 松本弘昭（日立ハイテク）
〇14:50-15:30　EELSの基礎と実践 中西伸登（サーモフィッシャーサイエンティフィック）
〇15:40-16:00 Q&A

12月5日（金）
試料作製（座長：矢口紀恵（日立ハイテク））
〇10:00-10:30　試料作製方法 谷口俊介（日本製鉄）
〇10:30-11:00　FIB-SEMとEBSDを用いた特定方位からのTEM試料作製 ～大気非曝露環境下 三平智宏（日本電子）
〇11:00-11:30　ソフトマテリアルのための電子顕微鏡用試料作製 中山智香子（日本電子）
〇11:40-12:00 Q&A

トピックス２：(S)TEMによるひずみ解析の最先端（座長：村上恭和（九州大学））
〇13:30-14:00　4D STEMを用いた歪み解析と各種技術 佐伯哲平（アメテック）
〇14:00-14:30　5D-STEMによるピコ秒音響波およびGHz音響分散計測 中村飛鳥（理化学研究所）
〇14:30-15:00　DM Pluginによるひずみ解析 ～GPA,PPA,HoloDark,sMoire～ 石塚顕在（HREM）
〇15:00-15:30　原子分解能STEM像からの高精度格子定数測定とその応用 佐藤幸生（熊本大学）
〇15:40-16:00 Q&A