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図4 DIC顕微鏡は像面で光路長の勾配を強度の違いに変換し,他の測定法では検出するのが困難なレーザー誘起損傷の可視化を可能にする

測量法⑵

図4 DIC顕微鏡は像面で光路長の勾配を強度の違いに変換し,他の測定法では検出するのが困難なレーザー誘起損傷の可視化を可能にする セクション3:微分干渉コントラスト顕微鏡法 微分干渉コントラスト(Differential […]
図1 キャビティリングダウン分光計は,共振器キャビティ内の強度減衰率を測定することで,絶対強度値を直接測定する測量法より高精度な測定を可能にする

測量法⑴

測量は,光学部品が要求される仕様に一貫して適合し,安全に機能することを確実にするうえで極めて重要になる。この信頼性は,ハイパワーレーザーを利用するシステム,もしくはスループットの変化がシステム性能に支障をもたらす場合にと […]
図1 高分散ミラーや他のパルス圧縮用オプティクスは負の分散を発生させ,超短パルスレーザーが光媒体を透過する際に生じる正の分散を打ち消す

高分散ミラー

図1 高分散ミラーや他のパルス圧縮用オプティクスは負の分散を発生させ,超短パルスレーザーが光媒体を透過する際に生じる正の分散を打ち消す 1. はじめに 超短パルスレーザーシステムの多くの光媒体に導入されている正のチャープ […]
超短パルス分散

超短パルス分散

1. はじめに多くの種類のレーザーシステムでは分散の影響は小さなものであるが,超短パルスレーザーのアプリケーションではとりわけ問題になる。超短パルスレーザーは,ピコ秒,フェムト秒,もしくはアト秒のレベルの短いパルス持続時 […]