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計測

計測の記事一覧

全38件中 11〜20件目を表示

  • 日立ハイテク，高精度電子線計測システムを発売

    日立ハイテクは，高精度電子線計測システム「GT2000」を発売すると発表した（ニュースリリース）。 半導体製造プロセスの進化に伴い，N2（2nm世代）およびA14（14Å世代）デバイスの研究開発が行なわれている。また，最...

    2023.12.13

  • ニコン，林業・業務用レーザー距離計を発売

    ニコンイメージングジャパンは，樹木や対象物の高さ・距離を測定する，林業・業務用レーザー距離計「Forestry Pro II J（フォレストリー プロ ツー ジェイ）」を7月21日（予定）に発売する（ニュースリリース）。...

    2023.06.23

  • 慶大，4pmの精度で弾性表面波の振動量を決定

    慶應義塾大学の研究グループは，弾性表面波デバイスの表面で起こる極めて小さな振動現象の変位を，1兆分の4メートルの精度で定量的に決定することに成功した（ニュースリリース）。 弾性表面波デバイスは携帯電話やスマートフォンに内...

    2022.10.06

  • オフィール，ビーム分析システムを発表

    米MKS Instrumentsは，添加剤製造チャンバー内のレーザーの高速で正確，リアルタイム測定を可能とするパワー計測およびビーム分析システム「Ophir BeamPeek」を発表した（会社HP）。 このシステムは，ビ...

    2022.05.17

  • 電通大，光コムで高精度な瞬時3次元計測に成功

    電気通信大学の研究グループは，光周波数コムを用いた瞬時3次元計測手法に対して，シングルモードファイバとマルチモードファイバで構成したバンドルファイバによる2次元分光法を新たに採用することで，任意の3次元形状を瞬時，かつ高...

    2022.03.31

  • 慶大ら，光学材料の屈折率と厚さを高精度同時計測

    慶應義塾大学と産業技術総合研究所は，平板材料の厚さと屈折率を，同時に極めて高精度に計測する技術を開発した（ニュースリリース）。 2つの物質における屈折率の違いによって境界面で光の屈折がおき，これがレンズを用いた集光の基礎...

    2022.01.19

  • Micro-Epsilon Japan，白色干渉計システムを発売

    Micro-Epsilon JapanはinterferoMETERシリーズ「IMS5600-DS」の販売を開始した（製品ページ）。 コンパクトなプローブ内にリファレンスを持った白色干渉方式の測長器で，手軽に0.03nm...

    2020.09.09

  • アストロデザインら，8K搭載の計測車両開発

    朝日航洋とアストロデザインは，道路・鉄道・空港などの各インフラ分野におけるメンテナンス性能の高度化と効率化のため， 8K映像技術を搭載した新型計測車両「GT 8K」を共同開発した（ニュースリリース）。 「GT 8K」 は...

    2020.06.04

  • ウシオら，小型吸光度計のグローバル展開を開始

    ウシオ電機とヤマト科学は，共同ブランド商品の小型吸光度計「PiCOEXPLORER（ピコエクスプローラー）」のグローバル展開を開始する（ニュースリリース）。価格は9万8千円（税別）。 この製品は，分析・センシング分野で業...

    2019.12.17

  • 日立LG，LiDAR用動線計測ミドルウェアを無償提供

    日立エルジーデータストレージ（日立）は，3D LiDAR（TOF）センサー向けの動線計測ミドルウェアパッケージの無償提供を開始した（ニュースリリース）。 同社の3D LiDAR （TOF）センサー，HLS-LFOMシリー...

    2019.06.13

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