ニコンソリューションズは，半導体デバイスをはじめとした，電子部品などの寸法を自動で測定できる画像測定システム「NEXIV VMF-K」シリーズを発売すると発表した（ニュースリリース）。受注開始は2024年12月。

半導体デバイスの微細化・高集積化が進む中，その品質を維持するための検査工程はますます重要になっている。

この製品は，光学系のメカ設計見直しにより，高さ測定のスキャンスピードが向上。これにより，従来機種と比較し，約1.5倍のスループット向上を実現。また，従来の30倍に加えて，高倍率の45倍モデルをラインナップに追加した。半導体の最先端アドバンスドパッケージにおける，2μm以下の微細な回路線幅の測定ニーズに応えるという。

さらに，コンフォーカル光源のLED化による長寿命化や，半導体製造装置の安全基準に関する規格「SEMI S2/S8」に対応している。測定終了までの残り時間表示機能を追加し，ブラック，シルバーを基調としたファクトリーデザインに外観を一新している。

主な仕様は以下の通り。