米MKS Instrumentsは，高出力VISおよびNIRレーザー用の非接触ビームプロファイラー「Ophir BeamWatch Plus」を発表した（ニュースリリース）。
この製品は，NIR領域（950～1100nm）に加えて，VIS波長（420～635nm）の高出力レーザー，主に緑色レーザーと青色レーザーを測定する第2世代システム。高出力のYAG，ファイバー，ダイオードレーザー向けに設計されている。
レーザービームと接触せずにレーザーパラメーターを迅速かつ正確に測定する業界唯一の産業用ビームプロファイラーだとし，ビームによって発生するレイリー散乱を利用して連続測定を行なう。
これにより，焦点スポットサイズ，ビーム位置，およびビーム全体のコースティクスを瞬時に確認することができるほか，プロセスの開始時に焦点面の位置を動的に測定することもできる。
ビームの測定は，プロセスを停止したり，大規模な工具や固定具を取り外したりすることなく実施可能で，100kWまでのテストが行なわれているという。
従来のビーム測定システムはディテクタを損傷してしまう可能性があり，データを収集してビームの特性を評価する測定プロセスに2分もかかっていた。この製品は，焦点スポットサイズとビーム位置を瞬時に読み取り，プロセスの開始時に焦点面の位置を動的に測定する。
また，最小45μmのスポットサイズのビームを測定する高倍率光学系を備え，より小さく正確な切断が可能になる。焦点スポットの位置を1秒あたり数回測定して，測定開始時における焦点位置の変動を追跡できる。
さらに，2軸測定機能を備えており，ユーザーは2つの直交する軸からレーザービームを確認することができる。測定値は各軸で計算され，レーザーの特性に関する詳細情報が得られる。焦点シフト量は両方の軸で追跡でき，測定結果からビームの真円度や非点収差の存在を判断することができる。
レーザーのレイリー散乱によって作成された画像をリアルタイムで正確に分析する。計算は，ビームウエストのサイズと位置，焦点シフト，M2，BPP，その他の品質パラメーターから行なわれる。
主要なレーザー性能パラメーターがプリセット範囲と比較され，Go/No-Goの読み出しが提供されるため，メンテナンス時期を知ることができる。このソフトウェアには，自動化のためのオートメーションコントロールインターフェイスも含まれている。
この製品は，オフィールジャパンが日本国内にて販売するとしている。
