米MKS Instrumentsは，フィールド技術者向けに，アディティブマニュファクチャリング（AM）チャンバー内のレーザーを高速かつ正確にリアルタイムで測定するためのレーザービーム解析ソフトウェア「Ophir BeamPeek」を発表した（製品ページ）。

この製品は，AM向けの高出力レーザービーム解析および出力測定システム「Ophir BeamPeek」と連携して動作し，プロセスの最適化のために重要なビームパラメータを分析する。技術者はビームの形状，サイズ，強度分布を包括的に確認できるため，異常や逸脱の迅速な特定が容易になる。

AMチャンバーは，高出力レーザーベースのシステムとパフォーマンスの最適化が難しい環境にあるが，これらの製品を使用する事により短時間でビーム測定結果を得る事が可能。ビームプロファイリング，焦点解析，パワー測定をわずか3秒で実行する。必要に応じて，独自のカスタム測定位置を簡単に入力する事もできるという。

システムには交換可能なパッシブ冷却ビームダンパートレイが含まれているため，水冷やファンによる冷却は不要で，測定セッション間のダウンタイムが不要。AMチャンバー，パウダーベッド方式のフィールドサービステストに適している。また，金属粉末の残留物が存在する場合や，冷却剤やエアフロー接続ポイントが利用できないといった状態のチャンバーでも使用できる。

複雑な分析を必要とせずに，レーザー出力とビームの集光曲線を同時に測定する。ビーム測定結果を表示・視覚化するため，2Dビーム表示，集光曲線表示，および3Dビーム表示が可能。また，画面レイアウトもカスタマイズできる。

結果表示パネルには，次の主要なレーザーパラメーターが表示される:特定のフレームからビーム幅，楕円率，Z位置，Xアライメント，Yアライメント，合計パワー，平均パワー密度，同様に集光曲線測定からウエスト幅，ウエスト位置，ウエストでのパワー密度，M2，BPP，K。

より詳細な結果と分析が必要な場合，結果ファイルを「Ophir BeamGage Professional」ソフトウェアにロードして，完全な後処理機能を利用できる。

この製品は，ISO認定の正確なレーザービーム測定に必要なすべての計算ができる。さらに高度な画像処理機能，NISTトレーサブルなパワー測定，トレンドグラフ作成，データロギング，製造テストの合否判定，および多言語もサポートするという。

この製品は，ソフトウェア，ツール，さらに複雑な分析など，様々なオプションでサポートされる。なお，日本国内の販売はオフィールジャパンが行なうとしている。