桐蔭横浜大学と高輝度光科学研究センターは，ペロブスカイト太陽電池における光と湿度の共存環境下での劣化機構を，放射線を用いたX線回折法測定法を用いて世界で初めて明らかにした（ニュースリリース）。
ペロブスカイト太陽電池は，ポストシリコン太陽電池として注目を集める一方，シリコン太陽電池と比べて発電効率が劣化しやすいという問題がある。特に，実際に太陽電池が使用される光と湿度の共存する環境下では，劣化が進みやすく，長期間の安定した性能を維持することが困難とされている。
これまで，ペロブスカイト太陽電池の劣化機構を解明するための多くの研究が進められてきたが，光と湿度の共存環境下における劣化機構については，詳細に解明されていなかった。
研究では，ペロブスカイト太陽電池に用いられるハロゲン化ペロブスカイト結晶の多結晶薄膜の光と湿度の共存環境下における劣化機構を，放射線を用いたX線回折法測定法を用いて観察した。
その結果，光と湿度の共存環境下における劣化機構は，光照射が無い場合の劣化機構と大きく異なることがわかった。光と湿度の共存環境下における太陽電池特性の急激な劣化は，水分子が付加した錯体分子が原因であることが示唆された。
この研究により，ペロブスカイト太陽電池の劣化機構が光と湿度の共存環境下で詳細に解明されたことは，今後の開発に向けた大きな前進となる。今後は，これらの知見をもとに，ペロブスカイト太陽電池の劣化を防ぐ技術開発が進むことが期待される。
また研究グループは，この研究で用いた放射光を用いたその場観察測定手法は，ペロブスカイト太陽電池の評価手法として広く活用されることが期待されるとしている。
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