アバゴ・テクノロジー,光学位相を利用した歪み検出センサを開発

アバゴ・テクノロジーは,産業アプリケーション向けの独特な低コストポリマー光ファイバ(POF)を利用した歪みセンサ・ソリューションを発表した。この光学位相検出(OPI:Optical Phase Interrogation)技術は,現在の光ファイバグレーティング(FBG)歪みセンサと同等の高精度歪み測定性能を実現するもの。開発キットは,2014年1月に配布開始の予定。

POF Strain Sensor

この光センサは,POF を使用して「蛇行経路」センサアレイを構成しており,限られた領域内に 1 本のファイバで複数のループを収容することができる。このループは,歪んだとき,ファイバに注入された光信号の位相を変化させる。これを歪みのない別の参照ループと比較して,2 つの信号の位相差を歪み測定値に変換する。この技術は,高い弾性歪み範囲(>5%)と広いダイナミックレンジを実現している。

参照ファイバは同時に,温度補償も提供する。検出アレイは光ファイバしか含んでいないため,EMI および EMC と関連した干渉に耐え,系の他の部分から完全に電気的に分離される。

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