光関連技術

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アドバンテスト,半導体パッケージ厚さ測定向けテラヘルツ波検査装置「TS9000」の販売を開始

アドバンテスト,半導体パッケージ厚さ測定向けテラヘルツ波検査装置「TS9000」の販売を開始

アドバンテストは,半導体パッケージの厚さを測定するチップ・モールド膜厚検査システム「TS9000」の販売を開始した(ニュースリリース)。 今回販売を開始する製品は,テラヘルツ波を用いて半導体パッケージの厚さを非破壊で測定 […]
東大ら,磁性体で「スピンカイラリティ」由来の強誘電性を立証することに成功

東大ら,磁性体で「スピンカイラリティ」由来の強誘電性を立証することに成功

東京大学,横浜国立大学,日本原子力研究開発機構らは,磁性体において「スピンカイラリティ」に由来する強誘電性が現れることを,横浜国立大学のパルス強磁場発生装置と米国オークリッジ国立研究所(ORNL)の広角中性子回折装置(W […]