ウシオ,EUV光源事業をブランド化

ウシオ電機は,従来より研究・開発に取り組んできたEUV光源事業をさらに推し進めるため,開発から製造,運用,アフターサービスに至るEUV光源事業のブランド化を策定し,ブランド名「TinPhoenix(ティンフェニックス)」としてグローバル展開すると発表した(ニュースリリース)。

同社はこれまで,半導体製造プロセスに対し露光用UVランプ「SHシリーズ」(1977年~)や露光装置「UXシリーズ」(1988年~)などのブランドを展開してきた。

今年7月には,性能と信頼性を向上させてきたSnLDP(レーザーアシストプラズマ放電方式)EUV光源によるEUVリソグラフィ量産プロセス向けマスク検査用EUV光源が検査装置メーカーに初検収されている。

半導体業界において切望されているEUVによる量産プロセス確立に向け,多くの日本企業がインフラ的要素であるレジスト材料やフォトマスク,検査装置等の重要な要素を担っている中,同社も高精度マスク検査用EUV光源技術を継続的に進展させたいとしている。

なお,新ブランド「TinPhoenix」の技術・製品については,9月15日~19日に米カリフォルニア州モントレーで開催されるSPIE(国際光工学会)主催の「PHOTOMASK TECHNOLOGY + EUV LITHOGRAPHY」のジョイントカンファレンスにて,ポスターセッションを行なうとしている(ポスタータイトル「LDP EUV Light Source for Mask Inspection」)。

キーワード:

関連記事

  • imec、EUV露光量低減の新たな可能性を提示

    imecは、EUV露光後リソグラフィー工程中のガス組成を精密に制御することで、必要な露光量の最小化が可能となることを発表した(ニュースリリース)。 金属酸化物レジスト(MOR)は、化学増幅型レジスト(CAR)と比較して、…

    2026.03.02
  • キヤノン、世界初 ナノインプリントリソグラフィ技術を応用したウエハー平坦化技術

    キヤノンは、ナノインプリントリソグラフィ(NIL)技術を応用し、ウエハーを平坦化する「Inkjet-based Adaptive Planarization」(IAP)技術を開発し、世界で初めて実用化した(ニュースリリー…

    2026.01.15
  • KEK,加速器による最先端半導体露光技術の研究促進

    高エネルギー加速器研究機構(KEK)は,加速器による半導体露光技術の研究開発を促進すると発表した(ニュースリリース)。 最先端の半導体である3nmプロセスに用いられる極端紫外線(EUV)のレーザーは赤外線からのエネルギー…

    2025.06.30
  • ラムリサーチのドライレジスト,EUVに適格と評価

    米ラムリサーチは,同社のドライフォトレジスト(ドライレジスト)技術が2nmおよび2nm以下のロジック回路におけるバックエンド・オブ・ライン(BEOL)の,28nmピッチのダイレクトプリントに適格であると,半導体研究機関の…

    2025.01.16
  • DNP,EUV向け2nm世代以降のパターン解像に成功

    大日本印刷(DNP)は,半導体製造の最先端プロセスのEUV(Extreme Ultra-Violet:極端紫外線)リソグラフィに対応した,2nm世代以降のロジック半導体向けフォトマスクに要求される微細なパターンの解像に成…

    2024.12.13

新着ニュース

人気記事

編集部おすすめ

  • オプトキャリア