独ライカマイクロシステムズは，異物混入原因をすばやく解析する清浄度ソリューションを開発した（ニュースリリース）。

このCleanliness Expert（コンタミ解析）ソリューションは，残留異物解析が可能になり，微粒子の検出，計数，分析，異物混入のリスクに基づく分類のほか，同時に粒子の組成を分析することもできる。操作は顕微鏡1台で完結し，異物混入原因の追求時間を最大90%節減できるという。

このソリューションは，Cleanliness Expert ソフトウェアを搭載した「DM6 M」金属顕微鏡とLIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy：レーザー誘起ブレークダウン分光法）システムを一体化。この2-in-1ソリューションによって，目視検査と化学分析とが1つの装置で実行できる。

さらに，清浄度解析のワークフローを1段階に短縮し，従来の電子顕微鏡（SEM/EDS）などの下流分析に比較して，現場にて迅速な検査が可能になるとしている。