【OPIE’17】京セミ,InGaAs近赤外カメラを出展

著者: sugi


京セミは,InGaAs近赤外カメラを,光技術総合展示会「OPIE’17」の「赤外・紫外応用技術展」に出品する(ブースNo.F-28)。

この装置により,内部透視による非破壊の観察・検査が可能となる。ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査,食品や医薬品・化学製品の成分・特性検査や異物検出,各種鑑別,真贋判定や暗視観察などいろいろな用途に使用できるとしている(会社HP)。

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