ニコンと日本電子は共同で，最先端のCLEM（Correlative Light & Electron Microscopy：光電子相関顕微法）によるソリューションの体験提供や技術情報の受発信を目的として，日本電子の開発館内に「JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター」を2017年9月1日に開設した（ニュースリリース）。
CLEMとは，広い範囲を高速に観察し，座標情報や分子の局在情報が得られる光学顕微鏡と，高い空間分解能で観察し微細構造の情報が得られる電子顕微鏡のそれぞれから取得した情報を相関させ，双方のメリットを活かした効果的な観察・分析をする方法。
近年，最先端のバイオサイエンス研究や材料開発研究において，ソフトウエアなどを用いて光学顕微鏡と電子顕微鏡を連携させ，効率的にCLEMを行なうニーズが高まっている。
ニコンは2013年に日本電子と協業して，光学顕微鏡/走査電子顕微鏡リンクシステム「miXcroscopy™」を開発した。また，2014年2月には資本業務提携契約を締結し，ニコンの光学顕微鏡と日本電子の電子顕微鏡を連携させたCLEMソリューションの構築をはじめ，新製品の開発や販売力の強化のために，協業を推進してきた。
今回開設したセンターにおいて，「miXcroscopy™」の製品紹介をはじめ，CLEMソリューションの提案やCLEMの普及推進を行ない，顧客との対話を通じてCLEMの技術をさらに高めるための情報の受発信を進める。
