アバゴ・テクノロジーは，産業アプリケーション向けの独特な低コストポリマー光ファイバ（POF）を利用した歪みセンサ・ソリューションを発表した。この光学位相検出（OPI：Optical Phase Interrogation）技術は，現在の光ファイバグレーティング（FBG）歪みセンサと同等の高精度歪み測定性能を実現するもの。開発キットは，2014年1月に配布開始の予定。
この光センサは，POF を使用して「蛇行経路」センサアレイを構成しており，限られた領域内に 1 本のファイバで複数のループを収容することができる。このループは，歪んだとき，ファイバに注入された光信号の位相を変化させる。これを歪みのない別の参照ループと比較して，2 つの信号の位相差を歪み測定値に変換する。この技術は，高い弾性歪み範囲（>5%）と広いダイナミックレンジを実現している。
参照ファイバは同時に，温度補償も提供する。検出アレイは光ファイバしか含んでいないため，EMI および EMC と関連した干渉に耐え，系の他の部分から完全に電気的に分離される。
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