第37回分析電子顕微鏡討論会

第37回分析電子顕微鏡討論会

日時:
会場:
オンラインでの開催(Zoomを予定)
主催:
公益社団法人 日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会 

分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックスについて講演が行われます。詳細は以下のプログラム(案)をご覧ください。

プログラム(案)(2022年10月12日現在)

12月8日(木) 9:30-15:50 

チュートリアル
9:30- EDSの基礎 金子賢治(九州大学)

10:10- EELSの基礎 治田充貴(京都大学)

10:50- STEM(走査透過電子顕微鏡)法  奥西栄治(日本電子)

11:30- Q&A(20分)

― 昼休み(11:50-13:30) ―

トピック1 「電子顕微鏡による最先端技法」
13:30- 電子顕微鏡の軟X線発光分光法によるLi分析 高橋秀之、越谷翔悟(日本電子)

14:00- STEM-EELSによるフォノン計測 吉川純(物質・材料研究機構)

14:30- 電子線タイコグラフィーによる環境関連材料の観察 三石和貴、中澤克昭(物質・材料研究機構)、佐川隆亮(日本電子)

15:00- 超短パルスレーザーを用いた時間分解透過電子顕微鏡の開発と応用 下志万貴博(理化学研究所)

15:30- Q&A(20分)

12月9日(金) 10:00-15:50 

試料作製
10:00- 試料作製によるダメージ形成のメカニズム 坂口紀史(北海道大学)

10:30- FIBを用いた無機材料の試料作製 加藤丈晴(ファインセラミックスセンター)

11:00- 材料解析のためのポリマー材料の試料作製 陣内浩司(東北大学)

11:30- Q&A(20分)

― 昼休み(11:50-13:30) ―

トピック2 「機械学習と分析電顕」
13:30- 微細構造計測データ解析のための統計的機械学習 志賀元紀(東北大学、理化学研究所)

14:00- 機械学習を活用したEELS解析の高度化 溝口照康(東京大学)

14:30- 情報科学的手法を用いた電子線ホログラフィーの高感度化と触媒解析への応用 村上恭和(九州大学)

15:00- 敵対的生成ネットワーク(GAN)による効率的な2D・3D材料組織画像の生成 足立吉隆(名古屋大学)

15:30- Q&A(20分)

参加費:
顕微鏡学会員及び協賛学会員(個人会員) 2,500円、 非会員 3,000円、学生 1,500円
定員:
150名
URL:
http://zaiko13.zaiko.kyushu-u.ac.jp/?第37回分析電子顕微鏡討論会

お問合せ先:九州大学大学院工学研究院材料工学部門  分析電子顕微鏡討論会事務局 佐藤 幸生
TEL: 092-802-2971
E-mail:sato.yukio.690@m.kyushu-u.ac.jp