NTTは，北海道大学と共同で，同大学所有の小型加速器中性子源を用い，宇宙線（中性子）による基幹ネットワーク機器のトラブルの再現実験を実施し，その事前対処を可能にする試験技術を確立した。
半導体デバイスの高集積化に伴い，宇宙線由来の中性子線や材料中の不純物に起因するα線が引き起こすソフトエラーへの対処が産業界全体の課題になっており，ソフトエラーを発生させるシミュレーションを行なう必要があった。しかし，それには数MWクラスの大型加速器中性子源が必要とされており，国内施設を借用し実験時間を十分に確保することが困難な状況だった。
そこでNTT研究所では，近年の半導体デバイスの細密化によるソフトエラーの発生率の増加から小型加速器中性子源でもソフトエラーの発生が可能と想定し，北海道大学と共同で，大型加速器中性子源と比較し，実験時間を確保しやすく，複数の装置へ中性子線照射が可能な北海道大学所有の小型加速器中性子源を用いて，ソフトエラーを再現できることを確認した。
これにより，ソフトエラー発生率を正確に予測し必要な対処を事前に行なうことが可能になり，この対処による各装置のソフトエラーに対する耐性を確認した。ソフトエラーによる2bit以上のエラー発生時の障害処理についても，現在開発中の各装置において実際に使われた場合に発生しうる事象を検出し，対処の有用性も事前に確認した。これにより，新規導入前に効率よく設計対処および運用対処を行なうことが可能となった。
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