大阪大学 大学院工学研究科准教授の高橋幸生氏，理化学研究所播磨研究所放射光科学総合研究センター主任研究員の石川哲也氏らの研究グループは，物質中の転位ひずみ場を可視化して，X線渦ビームを発生させるというコヒーレントX線の斬新な利用方法を開発した。

干渉性の良いX線（コヒーレントX線）と，タイコグラフィー（X線照射領域の一部が重なるように試料を走査し，各点からの回折パターンを取得する）を組み合わせることで，大きな結晶試料であってもひずみ分布を得ることが可能になる。この方法は特に，ブラッグX線タイコグラフィーと呼ばれている。

研究グループは，大きくて厚い結晶試料のひずみ分布観察を実現するために，ブラッグX線タイコグラフィーの開発を大型放射光施設SPring-8のビームラインを用いて行ない，シリコン単結晶薄膜中の転位ひずみ場の可視化に成功した。

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