10:05～11:05
光による測長の基礎
　国立研究開発法人産業技術総合研究所　鍜島 麻理子

11：10～12:00
超高精度平面度計測の動向
　国立研究開発法人産業技術総合研究所　尾藤 洋一

13:00～13:50
光干渉計による10ピコメートル級変位計測と機械学習を用いたレーザ真直度測定
　長岡技術科学大学　明田川 正人

13:55～14:45
Leica レーザトラッカーの紹介及び様々な業界での活用事例紹介
　東京貿易テクノシステム株式会社　眞田 裕樹

14:55～15:45
レーザ干渉測長の基礎と運用のポイント
　キーサイト・テクノロジー株式会社　佐藤 光一

15：50～16:40
ホログラムスケールを用いた測長器，レーザスケールの基礎と応用
　株式会社マグネスケール　石井 信行

16:40～16:50
アンケート

17:00～18:30
名刺交換会 交流会（参加費無料）