光関連技術

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ソニー,山形テクノロジーセンターを新設し,CMOSイメージセンサの生産能力を増強へ

ソニー,山形テクノロジーセンターを新設し,CMOSイメージセンサの生産能力を増強へ

ソニーは,ルネサスエレクトロニクスとの正式契約に基づき譲り受けることが予定されている,ルネサス山形セミコンダクタが所有する鶴岡工場の半導体関連資産を活用し,2014年3月31日にソニーセミコンダクタ山形テクノロジーセンタ […]
産総研,圧電MEMSデバイスを大口径ウェハ上に作製するプロセス技術を開発

産総研,圧電MEMSデバイスを大口径ウェハ上に作製するプロセス技術を開発

産業技術総合研究所・集積マイクロシステム研究センター・ライフインターフェース研究チーム主任研究員の小林健氏,大日本印刷・研究開発センター・次世代MEMS研究所の森脇政仁氏,瓜生敏文氏らの研究グループは,圧電薄膜であるチタ […]
筑波大学など,ダイヤモンドを用いて量子コンピュータの実現に不可欠な量子エラー訂正に成功

筑波大学など,ダイヤモンドを用いて量子コンピュータの実現に不可欠な量子エラー訂正に成功

筑波大学・名誉教授の磯谷順一氏,日本原子力研究開発機構(JAEA)量子ビーム応用研究部門半導体耐放射線性研究グループ・リーダの大島武氏ら研究グループは,ドイツとの共同研究により,室温での固体量子ビットの量子エラー訂正に世 […]
富士フイルム,発色濃度によって紫外線の光量分布を可視化できる紫外線光量分布測定フィルムを発売

富士フイルム,発色濃度によって紫外線の光量分布を可視化できる紫外線光量分布測定フィルムを発売

富士フイルムは,世界で初めて,フィルムの発色濃度によって,4~6,000mJ/cm2の幅広い範囲で紫外線の光量分布を簡単に可視化できる紫外線光量分布測定フィルム「UVスケール」(3種)を発売した。 紫外線の光量を測る方法 […]