光関連技術

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産総研,乱反射を防いでセラミックスの壊れにくさを簡便で高精度に測定する手法を開発

産総研,乱反射を防いでセラミックスの壊れにくさを簡便で高精度に測定する手法を開発

産業技術総合研究所(産総研 主任研究員の宮崎広行氏は,ファインセラミックスの破壊じん(靱)性を簡便かつ高精度に測定する手法を開発した。 圧子圧入(IF)法による破壊じん性試験の際,圧子圧入後のセラミックス試験片表面に,市 […]