東京大学 大学院薬学系研究科准教授の池谷裕二氏らの研究グループは，脳回路の中の記憶にかかわるニューロンで興奮性シグナルが増強することが，記憶痕跡の実態であることを証明した。

一度つくられた記憶は，その後ノンレム睡眠時に脳内で再生されることが知られている。しかし，どのような形で記憶痕跡が脳回路に埋め込まれ，脳がどのようにしてその記憶痕跡を再び取り出し再生するかは，いまだに知られていなかった。

研究グループは記憶にかかわったニューロンを，そうでないニューロンとは区別できる特殊な遺伝子改変マウスを用い，記憶にかかわったニューロンを蛍光タンパク質で生きたまま標識してスライス標本にして調べることで，記憶の痕跡がニューロン間の信号伝達の増強により脳回路に保存されていることを発見した。

これまで，脳回路ではニューロンの興奮（アクセル）と抑制（ブレーキ）は広くバランスが取れていることが常識とされてきた。しかし，記憶にかかわったニューロンは抑制性シグナルに打ち勝つほどの大きな興奮性シグナルを受け取ることで，記憶を再生させることが明らかになった。

さらに記憶は「LTP」（長期にわたり，ニューロンからニューロンへ信号が伝達しやすくなる現象。ニューロン間の接合部位（シナプス）が示す可塑性の一種であり，記憶の素過程と考えられている）によって脳回路に保存されていることも証明した。

この研究成果により，脳が極めて精細な興奮性調節に基づいて記憶を再生するという発見がもたらされ，記憶のメカニズムの解明に向けた大きな研究の進展が得られた。これは，脳が記憶を再生する仕組みに関する謎を解決したのみならず，今後，認知症など記憶ができない疾患ではどのような問題が生じているのかを解明する手がかりとなることが期待される。

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