産業技術総合研究所（産総研），島津製作所，日本電子およびリガクは，「ナノ材料の産業利用を支える計測ソリューション開発コンソーシアム」（Consortium for Measurement
Solutions for Industrial Use of Nanomaterials （COMS-NANO））を6月1日に発足，ナノ材料の粒径，特性評価手法・装置の開発を目指す共同研究に取り組む。
ナノメートルレベルの材料を計測・評価するためには，電子顕微鏡による直接観察，光散乱・回折，X線散乱を利用した計測手法，あるいは比表面積測定法などの間接的な評価手法がある。しかし，現状では粒径およびその分布，組成や不純物に関する計測手法の国際的な標準は整備されていない。
同コンソーシアムは，日本企業が得意とするナノ材料の計測技術を融合・統合することで，ナノ材料の計測装置の開発とその国際標準化を推進し，日本のナノ材料の国際展開に寄与する。
これまで産総研は，上記3社とそれぞれ個別に，ナノ材料の取り扱いやナノメートルレベルの計測技術に関する共同研究を進めてきた。これらはそれぞれの企業が得意とする計測技術の高度化を目指すものであったが，取り扱いや計測技術は企業ごとに異なっていた。
同コンソーシアムでは，それらの計測技術を融合・統合し，さまざまなナノ材料の取り扱いや計測のための手法を共通化・標準化することで，多様な形態と特性を示すナノ材料の産業利用を促進する。
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