オリンパスは，研究・開発や品質管理の場面で使用される工業用レーザ顕微鏡として，微細な電子デバイスや高機能素材などの表面形状を3次元（3D）で観察・測定する3D測定レーザ顕微鏡「LEXT OLS4100」を6月3日から発売する。また，レーザ顕微鏡の機能に加え，より高倍率のナノ領域の観察・測定が可能なナノサーチ顕微鏡「LEXT OLS4500」も6月3日より発売する。

「LEXT OLS4100」は，対象物をレーザーでスキャンすることで，電子デバイスなどの複雑な表面形状を接触せずに3Dで測定する。”繰り返し性”と”正確さ”の両方を保証し，さらに広い領域での高解像観察と高精度測定が可能となった。また，ワンクリックで自動的に3D画像を取得する機能や，画像取得速度が従来機に比べ約2倍になるなど，操作性能を向上させている。

「LEXT OLS4500」は，レーザ顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡を組み合わせた複合顕微鏡で，1台で数十倍～百万倍以上の広範囲な倍率で観察・測定することができる。なお，同製品は島津製作所と共同開発した。

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