産業技術総合研究所太陽光発電工学研究センター太陽電池モジュール信頼性評価連携研究体連携研究体長の増田 淳氏、主任研究員の原 浩二郎氏は、サスティナブル・テクノロジー（STi）と、酸化チタン系の複合金属化合物薄膜をガラス基板にコーティングして、Potential-induced degradation（PID）現象による結晶シリコン太陽電池の出力低下を抑制する技術を開発した。

この技術は、太陽電池モジュールに用いられるガラス基板に酸化チタン系複合金属化合物の薄膜をコーティングし、PID現象の主原因とされるナトリウムイオンなどのガラス基板からの拡散を抑制するもの。

今回開発した技術により結晶シリコン太陽電池モジュールの信頼性をさらに向上させ、今後、導入が加速すると予想されるメガソーラーなどの太陽光発電システムの長期信頼性の向上への貢献が期待される。

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