京都大学理学研究科教授の八尾誠氏のグループ、東北大学多元物質科学研究所教授の上田潔氏のグループ、広島大学大学院理学研究科助教の和田真一氏、理化学研究所放射光科学総合研究センターXFEL研究開発部門ビームライン研究開発グループディレクターの矢橋牧名氏および高輝度光科学研究センター XFEL研究推進室利用技術開発・整備チームリーダーの登野健介氏のグループ等からなる合同研究チームは、X線自由電子レーザ（XFEL）の非常に強力かつ非常に短い百兆分の1秒のパルス幅（発光時間）のX線をキセノン原子に照射すると、この百兆分の1秒の間に、キセノン原子がX線を吸収しては次から次に電子を放出して安定化する過程を繰り返して、急激にイオン化が進行することを見出した。
XFELの非常に強力なX線パルスを用いると、非常に小さな結晶や結晶化していない試料からでも1発のX線パルスでX線散乱を計測できるため、これまで構造が決定できなかったさまざまな物質や過渡的な状態にある物質の構造が決定できると期待されている。
この研究で、百兆分の1秒という非常に短いX線のパルス幅の間にキセノン原子がX線吸収とオージェ電子放出を何度も繰り返すことが見出されたことは、SACLAの強力X線パルスを用いたX線散乱の解析には、X線パルス照射中における原子の動的挙動を正確に知ることが不可欠であることを示している。
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