表面分析の初心者から一歩進んだ分析手法を模索している方までを対象とした「実用表面分析セミナー」を開催いたします。
　本セミナーでは分析機器メーカーや分析会社の協力により、講演とポスター展示を併設して、表面分析の応用面における情報交換の場を提供いたします。表面分析の解析技術向上に役立つ最新の分析技術の紹介や、各種材料に特有のノウハウやヒントになる内容をたくさん盛り込んでおります。また、参加企業と個別にご相談いただける交流会も開催します。
　多数の皆様のご参加をお待ちしております。

プログラム

10:40 開会あいさつ 日本表面真空学会関西支部 支部長　　白藤 立
＜一般講演1＞　10:45～12:00
10:45 9.25keV 液体Ga線源を用いた実験室系硬X線光電子分光装置のご紹介 シエンタ オミクロン株式会社　　　町田 雅武
11:00 最新のフルオート多機能走査型XPSの紹介 アルバック・ファイ株式会社　　　井上 りさよ
11:15 BackSide SIMSの紹介と硬質材料への適用 東芝ナノアナリシス株式会社　　　千代村 真
11:30 高S/N、高歩留まり、高領域分析を達成した
　最新型3次元アトムプローブ装置6000シリーズの紹介 アメテック株式会社　　　　　　　石川 真起志
11:45 顕微ラマンマッピングを用いた動的評価 株式会社日東分析センター　　　　長谷川 加奈
＜ポスターセッション・展示　& 昼食＞　12:00～13:00
＜一般講演2＞　13:00～13:45
13:00 ここまでできる！
　レーザーラマン顕微鏡を用いた最表面ラマンイメージング ナノフォトン株式会社　　　　　　足立 真理子
13:15 顕微ラマンを用いた分析事例の紹介 株式会社カネカテクノリサーチ　　?田 雅志
13:30 GD-OESを用いた分析事例の紹介 株式会社堀場テクノサービス　　　西村 智椰
＜特別講演＞　 13:50～14:50
13:50 半導体光触媒のオペランド界面計測
　：ダイアモンドプリズムを用いた光学分光と溶存酸素の高速検出 神戸大学 分子科学研究所特別研究部門
　教授　　大西 洋
＜一般公演3＞　14:55～15:40
14:55 AFMを用いた最新評価事例 株式会社島津テクノリサーチ　　　森口 志穂
15:10 AFM/CSI/SEMの最新技術から相関解析ソリューションへの展開 株式会社日立ハイテク　　　　　　栃本 貴志
15:25 ナノインデンターを用いた薄膜・コーティング膜表面の特性評価 株式会社住化分析センター　　　　小國 祐美子
＜ポスターセッション・展示＞　15:40～16:40
　　【ポスター出展企業】 上記企業および 日本電子株式会社