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検査装置

検査装置の記事一覧

全30件中 1〜10件目を表示

  • ニコン，寸法を測定できる画像測定システムを発売

    ニコンソリューションズは，半導体デバイスをはじめとした，電子部品などの寸法を自動で測定できる画像測定システム「NEXIV VMF-K」シリーズを発売すると発表した（ニュースリリース）。受注開始は2024年12月。 半導体...

    2024.12.05

  • 産総研ら，取り外し可能な基準電圧源付きDMM開発

    産業技術総合研究所（産総研）とエーディーシーは，取り外しが可能で安定性に優れた基準電圧源を備えた高精度デジタルマルチメーター（DMM）を世界で初めて開発し，製品化した（ニュースリリース）。 各種IT機器などに搭載されるチ...

    2024.07.09

  • 日立ハイテク，パターンなしウエハー検査装置を発売

    日立ハイテクは，パターンなしウエハー表面および裏面の異物や欠陥を検査する「LS9300AD」を発売すると発表した（ニュースリリース）。 パターンなしウエハー表面および裏面検査は，ウエハー出荷・受け入れ時の品質保証やさまざ...

    2024.03.15

  • ブイテク子会社，最速Siウエハー欠陥検査装置出荷

    ブイ・テクノロジーのグループ会社であるナノシステムソリューションズは，シリコンウエハー結晶欠陥のインライン検査を世界最速で実現する製品の出荷を開始した（ニュースリリース）。 AIサーバ等，最先端の用途に向けて製造される高...

    2023.12.13

  • 東レエンジMI，半導体ウエハー外観検査装置を発売

    東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー（東レエンジMI）は，半導体ウエハーの高精度検査において，業界最高の検査速度を有する半導体ウエハー外観検査装置「INSPECTRA SR-Ⅳ」を開発し，2023年12月から販...

    2023.12.11

  • オムロン，CT型X線はんだ自動検査装置を開発

    オムロンは，高速3D検査を可能とするCT型X線自動検査装置3モデル，「VT-X750-XL」（生成AI用，5G/6G通信用，車載コントローラ用実装基板向け），「VT-X850」（IBGTモジュール，インバータモジュール向...

    2023.11.24

  • 八光，フィルムの微小なうねりを検出する検査装置

    八光オートメーションは，工業用フィルムの微小なうねりを高速に検査可能な卓上検査装置を販売開始すると発表した（ニュースリリース）。 工業用フィルムは，日本の産業において極めて重要な役割を果たしている。スマートフォンのディス...

    2023.10.30

  • 日立ハイテク，ウエハー表面検査装置を発売

    日立ハイテクは，パターンなしウエハー表面における異物や欠陥を検査する「LS9600」を発売することを発表した（ニュースリリース）。 この製品は，新規採用の高出力・短波長レーザーなどを搭載することにより，最先端半導体デバイ...

    2022.12.20

  • SCREEN，ウエハー外観検査装置を発売

    SCREENセミコンダクターソリューションズは，次世代パワーデバイスやCIS，MEMSなどのパターン検査に対応するウエハー外観検査装置「ZI-3600」の販売を11月から開始することを発表した（ニュースリリース）。 近年...

    2022.11.15

  • 竹中電子，パッシブ式カラーセンサを発売

    竹中電子工業は，LEDの色判別や同色LEDを高分解能での識別に最適なパッシブ式カラーセンサ「CS-R85/CST-R85」の販売を開始した（会社HP）。 この製品は，従来機種「CS-R80/CST-R80」をリニューアル...

    2022.10.04

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