スペクトルグラフに加え、時間変化をトレンドグラフと強度マップで可視化し、それらを同時に確認しながらレーザーの特性を評価できます。
これにより測定時間の短縮やレーザースペクトルの全数検査、レーザーの光学調整の効率化、異常箇所の検知などが可能です。
注:同時に測定できる波長幅は測定波長により変わります。
大口径マルチモード光ファイバ対応で、測定光の入射が簡単です。
専用ソフトウェアでスペクトルを見ながら、測定光の入射位置を調整できます。
光学調整の時間短縮はもちろん、光ファイバへの入射光学系の省略と高い配置自由度を実現します。
アレイ型センサを用いたマルチチャンネル分光器では分解能と測定波長範囲はトレードオフの関係ですが、当社独自の波長制御技術により、185~1095nmの波長のレーザー測定に対応します。
可視・近赤外の半導体レーザーに加え、従来の光スペクトラムアナライザでは測定が難しかった193nmや248nmのエキシマレーザーや、266nmのYAGレーザー第4高調波などの紫外レーザーの測定も可能です。
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